穿透式電子顯微鏡(化材系)

 

穿透式電子顯微鏡

TEM
英文名稱 Transmission Electron Microscope, TEM
功能說明 具有掃描及穿透功能、可觀察材料微細組織、晶體結構及缺陷、並可做化學元素成份定性及半定量檢測
廠牌型號 JEOL JEM-2010(UHR)
儀器規格

(1) 加速電壓: 200 & 102KeV

(2) 解析度: Point   Resolution = 0.19nm, Lattice Resolution = 0.143nm

(3) 最大放大倍率: X   1500000 (X 1.5M)

建構年分 2012
收費標準 詳如下所示
備註

(1) 數位CCD 取照片

(2) 元素分析 EDS (費用另計)

(3) 可代做TEM試片(費用另計)

關鍵字 TEM   MicrostructureGrainMagnetic
放置位置 化材系磁性材料與薄膜實驗室
管理者

化學工程與材料科學學系/磁性材料與薄膜實驗室

孫安正教授

電話:03-4638800   分機:2561再轉2002

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元智大學 化學工程與材料科學學系 TEM 使用收費標準

儀器中()文名稱 學術單位 財團法人與廠商 管理人員
JEM-2010穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)

l  日間:3150/3小時。

l  夜間:6300/3小時。

(以上費用不包含EDS功能)

額外收費部分(選配)

lEDS點狀成分分析:1050/5

l光學底片:105/

l日間:6300/3小時。

l夜間:12600/3小時。

(以上費用不包含EDS功能)

額外收費部分(選配)

lEDS點狀成分分析:2100/5

l光學底片:210/

孫安正,Ph.D

03-4638800

先轉2561~3再轉2002

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or

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備註:

l本儀器電壓可以降至120keV做低熔點材料,收費標準同上。

l本儀器亦有搭配之TEM試片製作服務,唯因試片種類與製作方式不同,此部分費用另計。

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