原子力顯微鏡/磁力顯微鏡

 

原子力顯微鏡/磁力顯微鏡

AFM MFM
英文名稱

Atomic Force Microscope, AFM

Magnetic Force Microscope, MFM

功能說明 利用探針針尖量測樣本表面特性
廠牌型號 Bruker INNOVA SPM
儀器規格 試片最大尺寸 45mm x 45mm x 18mm
建構年分 2012
收費標準 詳如下所示
備註  
關鍵字 原子力顯微鏡、AFM、掃描探針顯微鏡、表面粗糙度
放置位置 化材系磁性材料與薄膜實驗室
管理者

化學工程與科學材料學系磁性材料與薄膜實驗室

孫安正教授

電話:03-4638800 分機:2561再轉2002

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元智大學化學工程與材料科學學系 TEM 使用收費標準

儀器中()文名稱 學術單位 財團法人與廠商 管理人員

原子力顯微鏡

(Atomic   Force Microscope, AFM)

l探針費用:525/
  ( 一次送測數個樣品仍以一次計)

l試片收費:525/
 
( 包含一個點的AFMMFM2D+3D)

額外多測一點加收630(包含2D+3D)

l探針費用:1050/
 
(一次送測數個樣品仍以一次計)

l試片收費:1050/
 
( 包含一個點的AFMMFM2D+3D)

額外多測一點加收630(包含2D+3D)

孫安正教授

電話:03-4638800
分機:2561再轉2002

E-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.

磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscope, MFM)

l探針費用:1050/
  (
一次送測數個樣品仍以一次計)

l試片收費:1050/
  (
包含一個點的AFMMFM2D+3D)

額外多測一點加收630(包含2D+3D)

l探針費用:2100/
  (
一次送測數個樣品仍以一次計)

l試片收費:2100/
  (
包含一個點的AFMMFM2D+3D)

額外多測一點加收630(包含2D+3D)

孫安正教授

電話:03-4638800
分機:2561再轉2002

E-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.

備註:

l特殊試片或特殊分析模式費用另計。

l以上皆含基本分析。

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